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上海御渡半导体科技有限公司申请一种半导体测试方法专利

放大字体  缩小字体 2025-01-31    来源:91金属网    作者:编辑部

91金属网讯,据国家知识产权局显示,上海御渡半导体科技有限公司申请一项名为“一种半导体测试方法”的专利

专利摘要:本发明涉及集成电路自动化测试设备领域,尤其涉及一种半导体测试方法。该方法包括在编译过程中,判断测试向量中指令周期数量是否固定;若所述测试向量中存在周期数量不固定的指令,则将周期数量不固定的指令按照固定次数来记录。通过将周期数量不固定的指令按照固定次数来记录,能够简化对测试向量中任意片段偏移的解析,从而大幅提高还原速度,减少AFM数据分析还原的耗时。

该专利公开号CN 119377026 A,申请日期为2024年10月。

 
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